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UI-X6220
MEMS芯片測試板卡
UI-X6220是一個專用於MEMS芯片的數字功能測試板卡,可用於多功能測試,量產測試等每張板卡有32個通道,每個通道有PMU功能,通過多板卡級聯,能擴展到最多512個通道,可以進行DC,AC相關參數測試
每個數字通道有獨立的可編程功能, 可以用作drive hi, drive lo, sense hi, sense lo和load value,另外,每個通道提供了高精度測量單元(PMU),以便用戶能進行DUT(device under test)的測試,包括參數測試,並行測試等
UI-X6220是基於PXI架構的板卡,具有多功能測試能力,提供了I2C/SPI功能,counter計數器功能,每張板卡能提供16site的I2C測試,8site的SPI測試,通過級聯,可以並行測試高達128site,同時,UI-X6220也有pattern memory的功能,每通道32M ,能進行10M的動態數字功能測試
基於Per pin per site的架構,能支持ATE的功能測試,可擴展性強,支持多種軟件開發環境,能快速幫助客戶進行開發,性價比高,能為客戶減小開發成本,快速切入市場,同時,該板卡也可以和其他功能板卡一起配合使用,比如RF板卡,SMU板卡,多功能數模板卡等,能提供完整的基於PXI的測試方案,能應用到 MEMS測試,傳感器芯片測試,RF芯片測試,電源管理芯片測試,多功能芯片測試等
特點
標準PXI總線架構
每板32個PMU
16個I2C master,可達400kHz時鍾速率
8個SPI master,可達10MHz時鍾速率
16個32bit計數器,可達10ns
時鍾速率可達10MHz
32個 I/O通道,每通道PMU功能
電壓範圍-1V到+10V
每個pin獨立,支持any pin to any site
每個pin獨立的PMU功能,獨立的DC level
操作係統支持Windows 7/10 等
支持LabView/ LabWindows 等
支持主/從架構通信模式
目標應用
MEMS芯片測試
G-SENSOR 測試
I2C /SPI功能測試
自動測試設備(ATE)
數字功能測試